论文编号:JD692论文字数:19442,页数:49
摘 要
在当今的测量和控制系统中,老式的接触开关已逐步由SCR(可控硅)开关所取代。SCR开关的控制方式通常有两种,相位控制和过零(零电压、零电流)控制。本文介绍了利用可控硅过零控制方法,现场进行PID参数的整定后,在单片机系统中实现0~300℃的温度显示与控制。本文的设计..
上一篇:AT89S52单片机实验系统的开发与应.. | 下一篇:微电阻测量系统 |
点击查看关于 单片机 系统 实现 SCR 可控硅 控制 的相关论文题目 | 2009-07-26 18:59:18【返回顶部】 |