论文字数:13545,页数:33 有开题报告,任务书
摘要
随着超大规模集成技术的迅猛发展,集成电路的测试日益成为一个挑战。测试生成的时间复杂性非常高。全扫描设计是最重要的可测试性设计方法之一,在这个方法中,全部触发器都具有全可控性和全可观察性。在测试模式下,所有触发器在功能上形成一个或多个扫描链,各个扫描链..
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点击查看关于 扩展 扫描 结构 优化 费用 方法 的相关论文题目 | 2010-05-06 09:13:45【返回顶部】 |