脉冲信号发生仪器的应用-开题报告-文献综述-参考文献

本脉冲信号发生仪器的诞生背景是这样的，起初接到这么一个任务，公司半导体封装厂有这么一款场效应管型号为70N88的产品在封装，需要用实验来验证70N88引线的可靠性。当时70N88场效应管本厂的封装欲采用了一根15mil的纯铝线，而代替传统的工艺采用的是二根并联的12mil纯铝线，这里的纯铝线指的是场效应管器件内部晶圆与器件外部引脚连接的那个引线（纯铝线）。这个想法的目的是，如果一根15mil的纯铝线能满足芯片的各性能应用要求，该产品就可以节省成本，这无疑更具有产品的竞争力。但当时的背景无人做这方面的试验，公司也没有这方面的实验平台测试设备，市场上也难以找到合适的实验设备来验证该想法，故而缺少大量的实验室数据的证明，公司一时难以决定该想法的生产任务是否执行，如果15mil的纯铝线无法满足器件反复应用的电流冲击，那将给公司带来很很严重的后果，故而需要搭建该方面的测试平台。

依据该简易脉冲信号发生仪器的各个功能的实现是以16位单片机PIC24F64GA006为核心，外接4*4的键盘，12864的液晶模块组进行人机界面接口。单片机产生的信号经驱动电路电平转换后，驱动功率MOS管的通断,从而实现输出各种脉宽的方波信号的原理。再针对该仪器主要应用于电子实验室各种功率型器件的冲击试验，还有电子应用型工厂电子产品性能质量控制。其应用的情况及性能这里列出三点分别为：①脉冲宽度的精度至少为1us,范围为65536us。②脉冲工作次数可计数的范围为100千万次。③由于大功率冲击是故障率和危险性极高的试验，故需考虑电路板可维护方便性，安全性方面的措施。

本脉冲信号发生仪器的应用成果很广，在此列举出以下几点：

应用测试器件类别

测试器件参数子类别

场效应管

1. BVDSS：漏-源击穿耐压值测试

2. RDS（ON）：静态通态电阻值测试

3. IDM：漏极最大脉冲电流值测试

4. Qg：总栅电荷值测试

5.ton,td(on),tr,toff,td(off),tf:开通时间，开通延时，上升时间，关断时间，关断延时，下降时间值测试

6. EAS：单脉冲雪崩能量值测试

二极管

1二极管瞬间通态浪涌电流值测试

2二极管反向恢复性能测试

三极管

三极管瞬态集电极电流值测试

晶闸管

晶闸管大电流冲击试验；

晶闸管瞬间通态浪涌电流试验；

晶闸管门极触发电流IGT测试；

晶闸管断态临界电压上升率(dv／dt)测试

磁芯材料

电感饱和电流点测试；

线性电感上升时间T值的验证

电容

电解电容ESR值测试

电子应用型工厂电子产品

通断电测试；

反向高压冲击试验等

依托该简易脉冲信号发生仪器进行MOS管各项性能指标测试效果是比较满意、较肯定的，根据查阅各型号MOS管厂家提供的数据手册的PDF文档，理解清楚功率MOS管的各项参数关键电气指标，借助于泰克TDS3034C示波器，先后测量出MOS管的漏-源击穿耐压值、MOS管的导通内阻、MOS管的开关时间、寄生二极管的导通压降的温漂等MOS管的特性参数，对工厂现有的十来种型号，上百个样品利用该简易脉冲信号发生仪器搭建出各种测试平台，满足不同需求的硬件测试平台，结合示波器将测试结果显示出来对其电参数性能进行评估对比。

二、^范文提纲

1摘要

2引言

3测试环境描述

  3.1硬件测试平台

  3.2测试工具

  3.3测试条件

4场效应管参数测试

4.1 BVDSS：漏-源击穿耐压值测试

4.2 RDS（ON）：静态通态电阻值测试

4.3 IDM：漏极最大脉冲电流值测试

4.4 Qg：总栅电荷值测试

4.5 ton，td(on),tr,toff,td(off),tf:开通时间，开通延时，上升时间，关断时间，关断延时，下降时间值测试

4.6 EAS：单脉冲雪崩能量值测试

5二极管参数测试

5.1二极管瞬间通态浪涌电流值测试

5.2二极管反向恢复性能测试

6测试数据结果及分析

7参考文献

8致谢

三、参考文献

[1]谭浩强.C语言设计（第三版）.北京：清华大学出版社.2005

[2]吴红奎.场效应管基础与应用实务.北京：科学出版社.2011

[3][日]户川治朗.实用电源电路设计.北京：科学出版社.2012

[4][美]B.Jayant Baliga.功率半导体器件基础.北京：电子工业出版社.2013

[5][美]James W.Nilsson.电路（第九版）.北京：电子工业出版社.2013

[6]张庆双.电子元器件的选用与检测.机械工业出版社.2003

[7]陈学平.Altium Designer 10.0电路设计与制作完全学习手册.北京：清华大学出版社.2012

[8]高海宾. Altium Designer 10从入门到精通.机械工业出版社.2014

[9]胡斌.神奇的晶体三极管.机械工业出版社.2012

[10]何此昂.Microchip PIC24系列单片机原理与程序设计.人民邮电出版社.2011

[11][美]Muhammad Ali Mazidi.PIC技术宝典.人民邮电出版社.2008

[12]晶闸管测试方法.陕西机械学院应用电子技术教研室.1985

[13][日]田中贤一.漫画电子电路.北京：科学出版社.2013:31-56